点击图片查看大图
国产X射线荧光光谱仪EDX4500H是在天瑞仪器多年XRF分析检测技术和经验基础之上研发的一款新型高端测试仪，采用新一代探测器及多道技术，实现超高计数率，1秒出结果，准确分析贵金属含量。同时，具备二维移动平台及高清工业摄像头，实现样品定位。探测面积大（面积达25m㎡）、单位时间内接受信息多、计数率高分辨率好。行业先进的数字多道技术，有效提高输出效率，实现超高计数率，保证采集有效计数率超过600KCPS
。采用大功率X光管及先进的准直滤光系统，样品更换无需关闭高压，提高测试效率与测试精度。超高清晰工业摄像头，更清晰的显示测试点。
EDX4500H技术参数
测量元素范围：硫(S)～铀(U)
元素含量分析范围：2ppm～99.99%
探测器：SDD探测器，分辨率可达125eV
管流：≤1000uA
管压：5～50kV
测量时间：1s或以上(可调)
检出限：重金属元素的分析检出限可达2ppm，可测试0.005μm的金属镀层厚度
滤光片：4种滤光片自由切换
准直器：8种准直器自动切换
样品观察：高清工业摄像头
环境湿度：≤70%
环境温度：15℃～30℃
制冷方式：电制冷，无需任何耗材
输入电压：交流220V±5V，建议配置交流净化稳压电源
EDX4500H仪器配置
SDD探测器
数字多道分析系统
X射线源
高低压电源
准直器滤光片系统
精密移动平台
光闸系统
样品观测系统
电子控制系统
计算机及喷墨打印机
应用领域
钢铁检测、全元素分析、有害元素检测（RoHS、卤素等）
