X射线膜厚度分析仪产品技术参数介绍,江苏天瑞仪器股份有限公司专业生产X射线膜厚度分析仪仪thick800a具有良好的射线屏蔽作用,测试口高度敏感性传感器保护。
天瑞公司的thick800a能够满足各种金属层不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求,φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求,高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm,采用高度定位激光,可自动定位测试高度,定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐,鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点,高分辨率探头使分析结果更加精准。天瑞仪器X-ray镀层测厚仪Thick800A是基于X射线荧光无损分析原理的快速镀层测验,是一款上招式设计的,自带三维移动平台,XYZ可定点,在镀层检测中可谓大展身手。
技术指标
SDD半导体探测器:探测器输入电压:±12V,+5V,探头窗口面积:25mm-2---,探头窗口厚度:0.5mil,分辨率:140±5eV,探头内制冷温度:<-40℃。
X射线光管:管压:5-50kV,管流:0-1mA,靶材:W靶,窗口:铍窗,制冷方式:风冷,工作温度:≤75℃。
高压发生器:输入电压:24V,输入最大电流:5A,管压:0-50kV,管流:0-2mA,灯丝最大电压:5V
,灯丝最大电流:3.5A
MCA多道分析器:输入电压:±12V,+5V,采样频率:100 KHZ,脉冲幅度:0-7.6V,A/D位数:12位
分析道数:2048道
准直器系统:准直器:Ø0.1 mm(可根据要求选配),滤光片:Mo(可根据要求选配)
高清晰摄像头:传感器类型:CCD(彩色),接口:USB2.0,传感器厂商:索尼,快门类型:面阵,光学尺寸:1/4英寸,有效像素:659(H)×494(V),有效像素尺寸:3.69mm(H)×2.77mm(V)
像素尺寸:5.6μm(H)×5.6μmm(V):感应度:0.58V(索尼标准)
颜色排列:RGB
帧率:30fps
快门速度:1/1538-1/30(秒)
自动对焦系统:通用数字激光传感器、CMOS激光传感器
仪器尺寸:
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm ,
特殊测试时,可开盖,对样品长度无限制
检测开槽口时,厚度10mm以上,宽度和深度没有限制。
样品台尺寸:230(W)×210(D)mm
移动范围:50(X)mm, 50(Y)mm
应用领域:
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
样品测试谱图,高清,谱线明显。:
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售后服务:
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