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X-ray镀层测厚仪器尺寸：
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
样品台尺寸：230(W)×210(D)mm
移动范围：50(X)mm， 50(Y)mm
Z轴升降平台升降范围：0-140mm
X-ray镀层测厚仪器采用高分辨率Si-PIN半导体探测器，去除元素干扰、底材干扰，保证镀层厚度测试数据精确性。
Si-PIN半导体探测器优点
能量线性好
能量分辨率高，分辨率在160±5ev
时间响应快，时间分辨好
窗口材料薄
灵敏区厚度可调
结构简单，体积小，重量轻
对磁场不灵敏
X-ray镀层测厚仪器采用性能稳定的牛津铜光管
X-ray镀层测厚仪Thick800A天瑞牌应用优势
针对不规则样品进行高度激光定位测试点分析；
软件可分析最高5层25种元素镀层；
通过软件操作样品移动平台，实现不同测试点的测试需求；
配置高分辨率Si-PIN半导体探测器，实现对多镀层样品的精准分析；
内置高清晰摄像头，方便用户观测样品状态；
高度激光敏感性传感器保护测试窗口不被样品撞击。
X射线镀层测厚仪X-ray测厚THICK800A是专业测试金属电镀膜厚的仪器，主要针对镀金，镀银，镀锌，镀锡，镀铜，镀镍，镀钯，镀铑等镀层厚度，天瑞仪器thick800a采用上照式，满足不同规格样品的测试，同时移动样品平台可以满足不同点样品测试，实现了智能化操作，作为X射线电镀膜厚仪生产厂家，产品质量、售后服务、价格占有一定优势。
技术指标
产品名称：X-ray镀层测厚仪
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
元素分析范围从硫(S)到铀（U）。
同时可以分析30种以上元素，五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内（每种材料有所不同）
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm
重量：90kg。
