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江苏 天瑞仪器股份有限公司

研发生产RoHS测试仪,镀层测厚仪,x射线荧光光谱仪,RohS仪器,手...

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x射线荧光镀层测厚仪
x射线荧光镀层测厚仪图片
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产 品: x射线荧光镀层测厚仪 
型 号: thick8000 
规 格: SDD 
品 牌: 天瑞仪器 
单 价: 200.00元/台 
最小起订量: 1 台 
供货总量: 999 台
发货期限: 自买家付款之日起 3 天内发货
更新日期: 2018-04-19  有效期至:长期有效
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x射线荧光镀层测厚仪详细说明
 Tx射线荧光镀层测厚仪hick800A是天瑞集多年的经验,专门研发用于镀层行业的一款仪器,可全自动软件操作,可多点测试,由软件控制仪器的测试点,以及移动平台。x射线荧光镀层测厚仪是一款功能强大的仪器,配上专门为其开发的软件,在镀层行业中可谓大展身手。

应用领域
x射线镀层测厚仪
黄金,铂,银等贵金属和各种首饰的含量检测.
金属镀层的厚度测量, 电镀液和镀层含量的测定。
主要用于贵金属加工和首饰加工行业;银行,首饰销售和检测机构;电镀行业。
性能特点

满足各种不同厚度样品以及不规则表面样品的测试需求
φ0.1mm的小孔准直器可以满足微小测试点的需求
高精度移动平台可精确定位测试点,重复定位精度小于0.005mm
采用高度定位激光,可自动定位测试高度
定位激光确定定位光斑,确保测试点与光斑对齐
鼠标可控制移动平台,鼠标点击的位置就是被测点
高分辨率探头使分析结果更加精准
良好的射线屏蔽作用
测试口高度敏感性传感器保护

技术指标

型号:Thick 800A
元素分析范围从硫(S)到铀(U)。
同时可以分析30种以上元素,五层镀层。
分析含量一般为ppm到99.9% 。
镀层厚度一般在50μm以内(每种材料有所不同)
任意多个可选择的分析和识别模型。
相互独立的基体效应校正模型。
多变量非线性回收程序
度适应范围为15℃至30℃。
电源: 交流220V±5V, 建议配置交流净化稳压电源。
外观尺寸: 576(W)×495(D)×545(H) mm
样品室尺寸:500(W)×350(D)×140(H) mm
重量:90kg

标准配置

开放式样品腔。
精密二维移动样品平台,探测器和X光管上下可动,实现三维移动。
双激光定位装置。
铅玻璃屏蔽罩。
Si-Pin探测器。
信号检测电子电路。
高低压电源。
X光管。
高度传感器
保护传感器
计算机及喷墨打印机

询价单
网站公告
天瑞仪器推出新一代XRF测试ROHS仪器,微聚焦X光管和高分辨率探测器,性能稳定达到国际一流水平
产品分类
联系方式
  • 联系人:孙俊骥(先生)
  • 职位:销售部(经理)
  • 电话:0512-50355716
  • 邮件:sunjunji@skyray-instrument.com
  • 手机:15306134234
  • 传真:0512-57017357
  • 地址:苏州市昆山市中华园西路1888号
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